光電器件AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)

簡(jiǎn)要描述：

光電器件AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)：廣電計(jì)量AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q測(cè)試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的測(cè)試服務(wù)，同時(shí)我們也提供LED、光電二極管、晶體管、激光器件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

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更新日期：2025-03-18

價(jià)格：

詳細(xì)介紹

品牌	廣電計(jì)量

光電器件AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)：由福特、克萊斯勒、通用組成的汽車電子委員會(huì)（AEC）頒布了光電器件的可靠性標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q102，對(duì)光電器件的可靠性展開(kāi)了嚴(yán)格的測(cè)試要求，為主機(jī)廠提供了可靠性高、使用壽命長(zhǎng)的光電器件。廣電計(jì)量AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q測(cè)試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的測(cè)試服務(wù)，同時(shí)我們也提供LED、光電二極管、晶體管、激光器件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。光電器件AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)

車燈是整車的重要組件，圍繞車燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜，各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述，通用性較差。

測(cè)試周期：

2-3個(gè)月，提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試等服務(wù)

產(chǎn)品范圍：

LED燈珠、光電二極管、光電晶體管、激光組件

測(cè)試項(xiàng)目：

序號(hào)	測(cè)試項(xiàng)目	縮寫	樣品數(shù)/批	批數(shù)	測(cè)試方法
序號(hào)	測(cè)試項(xiàng)目	縮寫	樣品數(shù)/批	批數(shù)	測(cè)試方法
1	Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test	TEST	所有應(yīng)力試驗(yàn)前后均進(jìn)行測(cè)試		用戶規(guī)范
2	Pre-conditioning	PC	SMD產(chǎn)品在WHTOL、TC、PTC試驗(yàn)前預(yù)處理		JESD22-A113
3	External Visual	EV	每項(xiàng)試驗(yàn)前后均進(jìn)行測(cè)試，除DPA和尺寸測(cè)試		JESD22-B101
4	Parametric Verification	PV	25	3 Note A	用戶規(guī)范
5a	High Temperature Operating Life	HTOL1	26	3 Note B	JESD22-A108
5b	High Temperature Operating Life	HTOL2	26	3 Note B	JESD22-A108
5c	High Temperature Reverse Bias	HTRB	26	3 Note B	JESD22-A108
6a	Wet High Temperature Operating Life	WHTOL1	26	3 Note B	JESD22-A101
6b	Wet High Temperature Operating Life	WHTOL2	26	3 Note B	JESD22-A101
6c	High Humidity High Temperature Reverse Bias	H3TRB	26	3 Note B	JESD22-A101
7	Temperature Cycling	TC	26	3 Note B	JESD22-A104
8a	Power Temperature Cycling	PTC	26	3 Note B	JESD22-A105
8b	Intermittent Operational Life	IOL	26	3 Note B	MIL-STD-750-1 Method 1037
9	Low Temperature Operating Life	LTOL	26	3 Note B	JESD22-A108
10a	Electrostatic Discharge Human Body Model	HBM	10	3	JS-001
10b	Electrostatic Discharge Charged Device Model	CDM	10	3	AEC Q101-005
11	Destructive Physical Analysis	DPA	2/試驗(yàn)	1	Appendix 6
12	Physical Dimension	PD	10	3	JESD22-B100
13	Terminal Strength	TS	10	3	MIL-STD-750-2 Method 2036
14	Constant Acceleration	CA	10	3	MIL-STD-750-2 Method 2006
15	Vibration Variable Frequency	VVF			JEDEC JESD22-B103
16	Mechanical Shock	MS			JEDEC JESD22-B104
17	Hermeticity	HER			JESD22-A109
18a	Resistance to Solder Heat	RSH (-reflow)	10	3	含鉛：JESD22-A113、J-STD-020
18a	Resistance to Solder Heat	RSH (-reflow)	10	3	無(wú)鉛：AEC-Q005
18b	Resistance to Solder Heat	RSH (-wave)	10	3	含鉛：JESD22-B106
18b	Resistance to Solder Heat	RSH (-wave)	10	3	無(wú)鉛：AEC-Q005
19	Solderability	SD	10	3	含鉛：J-STD-002、JESD22-B102
19	Solderability	SD	10	3	無(wú)鉛：AEC-Q005
20	Pulsed Operating Life	PLT	26	3	JESD22-A108
21	Dew	DEW	26	3	JESD22-A100
22	Hydrogen Sulphide	H2S	26	3	IEC 60068-2-43
23	Flowing Mixed Gas	FMG	26	3	IEC 60068-2-60 Test method 4
24	Thermal Resistance	TR	10	1	JESD51-50、JESD51-51、JESD51-52
25	Wire Bond Pull	WBP	10	3	MIL-STD-750-2 Method 2037
26	Wire Bond Shear	WBS	10	3	AEC Q101-003
27	Die Shear	DS	5	3	MIL-STD-750-2 Method 2017
28	Whister Growth	WG	/	/	AEC Q005