飽和濕度試驗-防潮性能測試?

飽和濕度試驗采用嚴酷的溫度、濕度和偏壓條件，加速水分通過外部保護材料（密封劑或密封件）或沿著外部保護材料和穿過它的金屬導(dǎo)體之間的界面滲透，與穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗激發(fā)相同的失效機制。

服務(wù)內(nèi)容

飽和濕度試驗-防潮性能測試協(xié)助客戶制定測試方案，開展測試，出具測試報告。

服務(wù)范圍

本測試適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品。多在產(chǎn)品的設(shè)計階段開展,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

檢測項目

半導(dǎo)體分立器件、集成電路、微電子器件、IC等的高加速應(yīng)力測試、高壓蒸煮、無偏置HAST、無偏置溫濕度試驗、溫濕度偏置等項目。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

根據(jù)需求確定。

服務(wù)背景

為什么要做此測試？ HAST高加速老化測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的。

相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST增加了壓力控制，可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期。尤其在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品測試中，HAST高加速老化被作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測試的快速有效替代方案。

我們的優(yōu)勢

1、廣電計量是國內(nèi)認可的專業(yè)第三方檢驗機構(gòu)，可提供一站式技術(shù)服務(wù)；

2、廣電計量環(huán)境與可靠性事業(yè)部在全國建立了18個實驗室，擁有專業(yè)的多學(xué)科專家團隊和的檢測設(shè)備；

3、廣電計量環(huán)境與可靠性實驗室具備CMA、CNAS等資質(zhì)，實行全國一體化管控模式，積極參加各類能力驗證項目，確保檢測結(jié)果公正準(zhǔn)確、可追溯；

l4、廣電計量在加速老化試驗方面有數(shù)十年積累，具有業(yè)內(nèi)專業(yè)水平的試驗設(shè)備和專業(yè)人才團隊。